Q8341 Advantest 광학 분석기

 

개요 및 기능

고속 고정밀도로 LD 측정

고속 측정 옵션: 0.5초

작고 가벼운 플랫폼

일관성 측정 해상도: 0.001mm

파장 분해능(650nm에서): 0.05nm(표준), 0.01nm(옵션)

피크 파장의 측정된 분해능은 0.001 nm입니다.

파장 측정 정확도: ±{0}}.05nm(표준), ±0.01nm(옵션)

최대 입력 레벨: ±10dBm

최대 일관성 측정 길이: 약. 약 10mm(표준) 40mm(옵션)

파장 측정 범위: 350~1000nm

명세서

파장

측정 범위: 350~1000nm

정확도: 표준: ±{0}}.05 nm; 옵션: ±0.05nm(일반 분해능 모드); ±0.01nm(고분해능 모드)

해상도: 표준: {{0}}.05 nm; 옵션: 0.05nm(일반 해상도 모드); 0.01nm(고분해능 모드)

수준

입력 감도: –50dBm 이하(350~1000nm), -55dBm 이하(400~900nm)

최대 입력 전력: + 10dBm

정확도: ±1.0dB(780nm, 입력 레벨 –10dBm)

배율: {0}.2, 0.5, 1.0, 2.0, 5.0, 10dB/div 및 선형

다이내믹 레인지: 30dB 이상

통일

최대 분석 길이

표준: 10.3mm

옵션: 41.4mm

측정 해상도: 0.001mm

입력 반사 손실: 30dB

측정 시간

CW 모드: 표준: 2초 이하; 옵션: 0.5초 이하(일반 해상도 모드); 1.0초 이하(고해상도 모드)

펄스 모드: 2초 이하

기능

작동/분석: 스펙트럼 폭 측정, 자동 피크 검색, 피크 정규화, 평균화, 총 전력, 펄스광 측정 모드

표시, 기타 기능: 중첩 표시, 목록 표시, 커서 기능, 누적 운전 시간 확인 기능

메모리 기능: 내부 CF 메모리(50MB 이상): 측정 데이터(텍스트), 화면 표시 데이터(Bmp), USB를 통해 외부 저장 장치 사용 가능

광학 입력

커넥터: FC 유형

적용 가능한 섬유: 50/125 GI 섬유

I/O 인터페이스:

GPIB(IEEE 488.2)

이더넷(10/100 베이스)

VGA 출력

USB 포트

PS/2 마우스

디스플레이: 6.5-인치 컬러 LCD(640 x 480 도트)

일반 사양

작동 환경: 주변 온도: 플러스 10 ~ 플러스 40도

상대 습도: 최대 85% (결로 없을 것)

보관 환경: 주변 온도: -10 ~ +50도

상대 습도: 최대 90% (결로 없을 것)

전원: 100~120VAC/220~240VAC, 50/60Hz, 150VA 이하

100V와 200V 시스템 간 자동 전환

치수: 약. 424(H) x 132(W) x 500(D)mm

Advantest Q8341은 파장 범위가 350 nm ~ 1{{10}}00 nm인 가시광선용 광학 스펙트럼 분석기입니다. Michelson 간섭계와 함께 푸리에 스펙트럼 시스템을 사용하기 때문에 Q8341은 일관성을 측정할 수 있습니다. 0.01nm의 좁은 파장 분해능(옵션 포함)을 갖춘 Q8341은 CD/DVD 레이저 다이오드뿐만 아니라 청자색 레이저 다이오드의 평가에도 매우 효과적입니다. 또한 내장된 He-Ne 레이저는 파장 기준으로 작용하여 ±0.01nm의 높은 파장 측정 정확도를 보장합니다(옵션 포함). 마지막으로 빠른 0.5초(옵션 포함) 측정 속도를 갖춘 Q8341은 시스템 구성 요소의 온도 특성을 평가하는 데 이상적입니다.

측정 원리

Q8341은 Michelson 간섭계를 사용합니다. 이 배열에서 DUT(Device-under-test)의 빛은 분할되어 두 경로로 이동합니다(두 결과 광 경로 사이에 간섭이 발생함). 이로부터 인터페로그램이 생성됩니다. 가로축은 두 광 경로의 길이(즉, 시간 또는 위상) 차이를 나타냅니다. 반대로 세로축은 간섭광 강도를 나타냅니다. 이것은 DUT의 자기상관입니다. 이 함수에서 FFT를 수행하면 파워 스펙트럼이 생성됩니다. 이를 돕기 위해 He-Ne 레이저가 파장 기준 소스로 사용됩니다.

고속 측정 옵션: 0.5초.

제조/생산 환경에 이상적

Q8341은 전체 스팬을 약 10분 단위로 측정합니다. 0.5초. 이 기능 덕분에 Q8341은 레이저 및 발광 다이오드 생산 라인에 이상적입니다. 또한 이 빠른 측정 속도는 높은 처리량 환경에 이상적입니다.

우수한 일관성 분석 길이

분석 길이: 약. 40mm, 최대(옵션)

약. 10mm, 최대(표준)

최대 길이 해상도: 0.001mm

Q8341은 또한 광 디스크에 대한 레이저 다이오드의 일관성을 평가합니다. 최대 40mm의 긴 분석 길이와 0.001mm의 좁은 분해능을 갖춘 Q8341은 청자색 레이저 다이오드 및 기타 소형 광학 부품을 평가하는 데 가장 적합합니다.

높은 파장 정확도

파장 정확도: ±{0}}.01nm(옵션), ±0.05nm(표준)

Ne-He 레이저 참조 광원이 내장된 Q8341은 높은 파장 정확도로 스펙트럼을 측정합니다.

청자색 레이저 다이오드의 발진 모드를 측정하기 위한 협분해능

파장 분해능(650 nm에서): 0.01 nm(옵션), 0.05 nm(표준)

좁은 분해능으로 Q8341은 청자색 레이저 다이오드의 발진 모드를 분리합니다. 또한 0.001 nm의 피크 파장의 측정 해상도는 DUT의 주변 환경에 영향을 받는 측정 결과를 모니터링하는 데 이상적입니다.

고처리량 측정용

대용량 메모리와 고성능 계산 장치를 사용하는 Q8341은 데이터를 빠르게 저장합니다. 그런 다음 이 데이터는 장치에서 계산되어 지정된 파장과 스팬을 나타냅니다. 예를 들어, Q8341이 2개의 파장 범위(650nm ±50nm 및 780nm ±50nm)의 스펙트럼을 분석하는 경우 디스플레이 범위만 변경하여 2개의 개별 LD의 스펙트럼 분석을 실행합니다. 이 모든 작업은 시스템을 재구성하지 않고 수행됩니다. 따라서 Q8341은 대량 생산 시스템 사용을 위한 인덱스 시간을 단축합니다.

측정 예

DVD 레이저 다이오드의 일관된 측정

DVD 레이저 다이오드의 중요한 일관성 특성 중 하나는 피크 대 2차 피크의 간섭 비율 출력을 결정하는 것입니다. Q8341은 단순히 키를 눌러 이를 측정합니다. 또한 일관성 계산을 결과 데이터로 표시합니다.

자동 측정: 레이저 다이오드의 피크 파장, 중심 파장 및 스펙트럼 폭

피크 파장(λp), 중심 파장(λo) 및 스펙트럼 폭(Δλ)은 레이저 다이오드의 기본 스펙트럼 측정 매개변수입니다. 하나의 키로 Q8341은 이러한 결과를 자동으로 계산하여 CRT에 표시합니다.

넓은 다이내믹 레인지

옵션 70을 사용하면 Q8341이 좁은 분해능으로 측정을 수행합니다. 이를 통해 405nm 대역 LD에 대해 발진 모드를 분리할 수 있습니다.

 

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